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X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器,通常x射線測厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠,五金廠,汽車零部件,PCB加工,電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀,測膜儀,鍍層測試儀,x射線鍍層測厚儀,金屬測厚儀,xrf測厚儀,x-ray測厚儀,x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正? 使用標準片進行校正是x射線測厚儀的正確方法,標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校
作為國內(nèi)**家從事能量色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和生產(chǎn)的企業(yè),儀器以精準和穩(wěn)定的特性,良好**十多年。從成立開始,儀器就是中國XRF儀器的**者,開拓者!EDX4500系列是儀器能量色散XRF儀器的科研結(jié)晶,**的抽真空測試技術(shù),能夠很好的對輕元素進行分析和測試。 測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U) 元素含量分析范圍: ppm—**(不同元素,分析范圍不同) 同時分析元素:一
手持式光譜合金分析儀explorer系列產(chǎn)品的性能良好,精度高,接近實驗室級的分析水平,可直觀顯示合良好號和元素百分比含量(某些元素可顯示到小數(shù)點后三位)及ppm含量。開機啟動—瞄準測試—察看結(jié)果”,整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成,合良好號鑒別只需1~2秒鐘,操作簡單,即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。采用堅韌的LEXAN.塑料密封外殼,重量輕,堅固耐用;密封式一體化設(shè)計,防塵、防水、防腐蝕,可在多種條
光電直讀光譜儀的全譜分析技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍,可根據(jù)客戶需要選擇通道元素;分析速度快捷,20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及標線,使儀器用較短的時間達到較優(yōu)的分析效果; 金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳(C),磷(P),硫(S)元素,適用于多種金屬基體,如:鐵基,鋁基,銅基,鎳基,鉻基,鈦基,鎂基,鋅基,錫基和鉛基。 1、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室
公司名: 蘇州百測檢測科技有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
電 話: 0512-36600406
手 機: 15306138389
微 信: 15306138389
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號產(chǎn)業(yè)園
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網(wǎng) 址: gcld88012007.cn.b2b168.com
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