RoHS無鹵檢測儀是一款集鹵素指令、RoHS指令、八大重金屬指令于一體的X熒光光譜儀。對鉛、汞、鎘、鋇等元素有很好的檢測下限以及精度。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,可以測定元素含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。下面我們來簡單介紹一下該儀器的原理。
RoHS無鹵檢測儀基本原理如下:
等離子體(Plasma)是指電子和離子濃度處于平衡狀態(tài)的電離的氣體。這種氣體不僅含有中性原子和分子,而且含有大量的電子和離子,因而等離子體是電的良導(dǎo)體,因其正、負(fù)電荷密度幾乎相等,故從整體來看是電中性的。采用頻率為7—50兆赫的高頻電源感應(yīng)加熱原理,使流經(jīng)石英管的工作氣體(Ar、N2、空氣等)電離所產(chǎn)生的火焰狀的等離子體就是電感耦合高頻等離子炬.
電感耦合高頻等離子體**光譜儀(ICP-AES)是以射頻發(fā)生器提供的高頻能量加到感應(yīng)耦合線圈上,并將等離子炬管置于該線圈中心,因而在炬管中產(chǎn)生高頻電磁場,用微電火花引燃,使通過炬管中的氬氣電離,產(chǎn)生電子和離子而導(dǎo)電,導(dǎo)電的氣體受高頻電磁場作用,形成與耦合線圈同心的渦流區(qū),強(qiáng)大的電流產(chǎn)生高熱,從而形成火炬狀的并可以自持的等離子體,由于高頻電流的趨膚效應(yīng)及內(nèi)管載氣的作用,使等離子體呈環(huán)狀結(jié)構(gòu)。
樣品由載氣(氬氣)帶入霧化系統(tǒng)進(jìn)行霧化后,以氣溶膠形式進(jìn)入等離子體的軸向通道,在高溫和惰性氣氛中被充分蒸發(fā)、原子化、電離和激發(fā),**出所含元素的特征譜線,由光柵分光系統(tǒng)將各種組分原子**的多種波長的光分解成光譜,并由光電倍增管接受。根據(jù)特征譜線的存在與否,鑒別樣品中是否含有某種元素(定性分析);根據(jù)特征譜線強(qiáng)度確定樣品中相應(yīng)元素的含量(定量分析)。
RoHS無鹵檢測儀還可用于檢測飾中的各種有害物質(zhì),飾中鎳釋放的測試。
詞條
詞條說明
ROHS十項(xiàng)測試需要用兩臺主要設(shè)備完成,一臺是GCMS,一臺EDX光譜儀。新增4項(xiàng)檢測儀硬件*的GC系統(tǒng),帶電子流量和電子壓力控制(EFC、EPC)*燈絲,電子**效率高,可達(dá)350μA帶預(yù)四的單四桿質(zhì)量分析器,有效減少測樣過程對四桿的污染;Rohs2.0新標(biāo)準(zhǔn)儀帶高能轉(zhuǎn)換打拿的電子倍增器提供的靈敏度;進(jìn)口機(jī)械泵和分子泵組成真空系統(tǒng),系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和可靠性;配備全量程真空規(guī),實(shí)時(shí)監(jiān)測真
一、數(shù)據(jù)偏差這可能不同于樣品測量類型的選擇,是樣品光譜無意中覆蓋樣品測試,這使得結(jié)果非常不同,原因一般是測量曲線錯(cuò)誤,或有一些錯(cuò)誤的信息,另一點(diǎn)是樣品太小,樣品本身有問題。ROHS檢測設(shè)備特性X輻射放射性同位素源或同位素源X輻射發(fā)生器釋放X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,從原子的內(nèi)層電子中分離出來。當(dāng)外部電子補(bǔ)充內(nèi)部電子時(shí),原子的固有能量就會被放射出來X射線-特征X射線。所有這些原因都可能
用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。X射線熒光光譜儀可以分為兩大類型:能量色散X 射線熒光分析儀(EDXRF)和波長色散X 射線熒光分析儀(WDXRF)。今天給大家分享下它們兩者之間的差異:?1、測量精度??盡
能量色散X熒光光譜儀是一種快速、無損、多元素同時(shí)測定的現(xiàn)代測試分析技術(shù),已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)研究、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑偵等諸多領(lǐng)域。它較大一個(gè)特點(diǎn)就是對樣品進(jìn)行定性、定量分析時(shí)不用制樣,可選擇整個(gè)或取樣品部分殘片顆粒,也可以將樣品研磨成粉末等來進(jìn)行X射線熒光分析,對測試分析樣品大小要求較低,在一定范圍內(nèi)樣品可大可小,因此對于一般的考古完整器都能直接進(jìn)行分析,較大地避免了
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 陳經(jīng)理
電 話: 13922801651
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