膜厚測量儀把控產(chǎn)品質(zhì)量細節(jié)

時間：2023-02-01作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：91

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 測厚儀的檢測方法及測量注意事項

  測厚儀按照測量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測厚儀通過儀器與樣品表面接觸測量，從而得知測量結果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測量，則衍生出各種非接觸式測量方法，測厚儀的檢測方法及測量注意事項。1.涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以*地測量探頭

• 為什么要選擇毛細管聚焦XRF技術?

  隨著電子設備和電子元件越來越小、越來越復雜，這些元件上所做的金屬修飾面也變得越來越小型化(如較薄的鍍層，較嚴格的偏差控制)。如果鍍層厚度**給定指標，產(chǎn)品將不符合性能要求，且可能會過早出現(xiàn)故障，從而導致保修索賠和聲譽受損。接下來和一六儀器一起了解一下為什么要選擇毛細管聚焦XRF技術?因為是非破壞性的快速、直接測量，X射線熒光(XRF)成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術。為測量小型化的鍍層，傳

• 一六儀器教你如何正確選擇臺式膜厚測量儀

  隨著市場上各種光譜儀、膜厚儀品牌越來越多，讓很多人在選購時也是眼花繚亂，不知道如何選擇。接下來和一六儀器儀器了解如何正確選擇臺式膜厚測量儀。選擇臺式膜厚測量儀時需要考慮以下幾個方面：范圍和精度：首先要根據(jù)所需測量的膜厚范圍和精度來選擇合適的測量儀器。在選擇時需要注意，所選儀器的量程范圍應該能夠滿足實際需要，并且精度要求要和實際應用場景相匹配。探頭類型：不同類型的探頭有著不同的特點。如磁感應式探頭適

• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學技術的進步，在60年代初發(fā)明了半導體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器，便可以據(jù)此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的