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詞條說明
EDX8000L是EDX3600L型的升級產品,利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的*部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣,一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量,再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效
使用鍍層測厚儀的注意事項一、注意保持試件表面的清潔和平整專業(yè)的鍍層測厚儀是一個非常精密的儀器,如果我們要想保證我們的測量數據能夠保持精準的話,就要保持試件表面的清潔,及時的處理掉試件表面的附著物如泥土、油污等,因為鍍層測厚儀對于試件的表面變化是比較敏感的所以我們一定要保持測量表面是處于一個平整的狀態(tài)。二、測量的次數與讀數要有一定的可靠性我們在進行測量時不能夠草草了事,單憑一次的測量以及單一的數據是
X射線測厚儀的測量原理就是通過施加高壓電源放射出X射線,通過X射線的穿透物體時的衰減量來測量被測物體的厚度。X射線測厚儀屬于X射線放射性同位素儀表,射源安裝和安裝到位后的調試過程中,對施工人員應采取有效的“劑量照射時間,射源的安全距離和屏蔽”等防護措施,以減少放射源輻射的傷害。1.在勞動生產安全方面,應當為磁粉探傷工作人員配備防電磁輻射的服裝(內含有金屬成分,可以對電磁輻射有一定阻擋作用)、電磁輻
1。測量對象引入的誤差測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面:1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應的影響5、基體金屬機械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對上述因素產生的測量誤差分析如下:1、對于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準確測量覆蓋層厚度,尤其是當覆蓋層厚度
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 劉經理
電 話: 0512-57017007
手 機: 13338643566
微 信: 13338643566
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號天瑞產業(yè)園
郵 編:
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