常用失效分析方法

時間：2020-04-24作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：96

儀準科技（北京）有限公司專注于手動探針臺,probe,station等

• 詞條

  詞條說明

• FIB/SEM/EDX技術指標

  聚焦離子束顯微鏡FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技術指標 一、技術指標 1、電子束電流范圍：1 pA - 400 nA； 2、電子束電壓：200eV-30 keV，具有減速模式 3、電子束分辨率：0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 4、大束流Sidewinder離子鏡筒； 5、離子束加速電壓500V-30kV（分辨率：3.0 nm）； 6、離

• 常用顯微鏡介紹

  常用顯微鏡介紹顯微鏡分析檢測 一、顯微鏡分析檢測簡介： 顯微鏡是我們實驗室較常用的分析設備，成本低，操作簡單，成像清晰。反饋的是樣品的原貌。通常顯微鏡是用來做外觀的檢測和圖片留存。 外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查樣品的外觀，尋找失效的部位和相關的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷樣品的失效模式。比如檢測一個PCB樣品，外觀檢查主要檢查PCB的污

• 湖北省集成電路產業(yè)

  湖北省集成電路產業(yè) 在國家大力推動下，國內集成電路產業(yè)逐漸形成了以北京為**的京津翼地區(qū)、以上海為**的長三角地區(qū)、以深圳為**的珠三角地區(qū)、以四川、重慶、湖北、湖南、安徽等為**的中西部地區(qū)四大產業(yè)聚集區(qū)。 隨著新一輪集成電路發(fā)展熱潮涌現，除京滬等地繼續(xù)**外，中西部地區(qū)省市雖為*二梯隊，卻也因西安、成都、重慶、武漢、長沙、合肥等集成電路重點城市，成為產業(yè)發(fā)展較活躍的產業(yè)聚集區(qū)，其中湖北憑借著國

• 探針臺測試

  2020年開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢，在此收集整理供手動探針臺相關信息供大家參考。 一：手動探針臺用途： 探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調