材料檢測(cè)中心-金屬材料中碳含量的測(cè)試方法

時(shí)間：2020-12-28作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：381

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于無(wú)損探傷檢測(cè),材料檢測(cè)中心,UV老化測(cè)試,硬度檢測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 半導(dǎo)體材料檢測(cè)中心

  ? ? ? ?半導(dǎo)體材料（semiconductor material）是一類具有半導(dǎo)體性能（導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內(nèi)）、可用來(lái)制作半導(dǎo)體器件和集成電路的電子材料。自然界的物質(zhì)、材料按導(dǎo)電能力大小可分為導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體三大類。半導(dǎo)體的電阻率在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍（上限按謝嘉奎《電子線路》取值，還有

• 無(wú)損探傷檢測(cè)工業(yè)ct鑄件檢驗(yàn)的特點(diǎn)

  如今鑄件已經(jīng)廣泛應(yīng)用在航空和航天，包括鋁合金，鎂合金鈦合金和高溫合金等行業(yè)。與鑄造和毛坯加工以形成工件相比，鑄件成本低并且可以形成非常復(fù)雜的形狀，這對(duì)于加工技術(shù)而言是困難的。大多數(shù)鑄件都有缺陷，有些甚至嚴(yán)重到影響整個(gè)鑄件的性能。因此，必須執(zhí)行無(wú)損檢測(cè)以確保其質(zhì)量。 對(duì)于鑄件的內(nèi)部質(zhì)量檢查，成熟和常規(guī)的方法是膠片X射線照相。常見的鑄件內(nèi)部缺陷包括收縮孔隙率，收縮孔隙率，氣泡和夾雜物。根據(jù)射線照相結(jié)果

• 硬度檢測(cè)的方法及種類

  洛氏硬度、布氏硬度、維氏硬度、里氏硬度、肖氏硬度、巴氏硬度、努氏硬度、韋氏硬度等。 ? ?1.洛氏硬度：硬度值的指標(biāo)由壓痕塑性變形深度確定。0.002毫米作為硬度單位。HB>450或者當(dāng)樣品太小時(shí)，布氏硬度試驗(yàn)不能用洛氏硬度測(cè)量。它使用**角120°金剛石圓錐體或直徑為1.59、3.18mm鋼球在一定載荷下壓入被測(cè)材料表面，材料的硬度由壓痕深度提取。根據(jù)試驗(yàn)材料的硬度，分為三個(gè)

• 材料檢測(cè)中心-金屬材料中碳含量的測(cè)試方法

  概述?“碳”位于元素周期表*二周期*四族，是自然界中常見的元素之一，在自然界的地殼、大氣和生物中主要是以單質(zhì)和化合物的形式存在，伴隨著選礦、礦物冶煉、材料制造等過(guò)程不可避免地會(huì)引入金屬材料中。碳元素對(duì)金屬材料的力學(xué)性能、微觀組織結(jié)構(gòu)、工藝有著重要影響[1]。因此，準(zhǔn)確測(cè)定金屬材料及相關(guān)原輔料中的碳含量對(duì)冶煉和生產(chǎn)制造工藝有重要的指導(dǎo)意義。?碳含量測(cè)定方法?根據(jù)碳的化學(xué)