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北京鍍層測厚儀的使用方法一、儀器簡介北京鍍層測厚儀是一種用于測量金屬表面鍍層厚度的精密儀器,通常用于評估表面處理工藝的質(zhì)量和效果。它采用超聲波測厚原理,具有精度高、操作簡便、易于攜帶等優(yōu)點。二、使用步驟1. 校準(zhǔn)儀器:使用前,請先對儀器進行校準(zhǔn)。具體方法為:將已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片放入測量探頭,調(diào)整儀器參數(shù),使顯示值等于標(biāo)準(zhǔn)片厚度,完成校準(zhǔn)。2. 準(zhǔn)備測量:將測量探頭接觸被測表面,調(diào)整探頭位置,使探頭與
RoHS熒光分析儀原理主要是基于光譜分析和熒光光譜技術(shù)。其基本工作原理如下:首先,儀器使用激光照射樣品,激光的照射使樣品中的有害物質(zhì)產(chǎn)生熒光反應(yīng),產(chǎn)生熒光光譜。這些熒光光譜會被儀器收集并進行分析。在分析過程中,儀器會首先確定樣品中的特定元素種類,再通過設(shè)定的一系列標(biāo)準(zhǔn),例如元素的原子結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu)等,對元素進行定性分析。隨后,儀器會根據(jù)熒光強度與元素含量的關(guān)系,進行定量分析。這一過程中,儀器會通過
手持式合金分析儀是一種基于X射線熒光(XRF)光譜分析技術(shù)的先進設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料檢測、質(zhì)量控制和金屬回收等多個領(lǐng)域。這種分析儀以其便攜性、高效性和準(zhǔn)確性而著稱,成為現(xiàn)場檢測和即時分析的理想工具。西藏手持式合金分析儀采用X射線熒光光譜分析原理,通過X光管產(chǎn)生的X射線照射被測樣品,激發(fā)樣品中元素的原子內(nèi)層電子,產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換成電信號,進而分析出樣品的化學(xué)成分和合金
電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometry,簡稱ICP-OES)在深圳的科技分析領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。作為一種先進的分析儀器,ICP-OES以其高靈敏度、高精度及多元素同時測定的能力,成為眾多科研機構(gòu)和企業(yè)實驗室中的必備設(shè)備。深圳作為中國的科技創(chuàng)新之都,其科研環(huán)境和技術(shù)實力為ICP-OES的應(yīng)用提供
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 柏自新
電 話:
手 機: 15190185116
微 信: 15190185116
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: tianrui2022.b2b168.com
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