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X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。許多ROHS檢測(cè)儀器用戶大概都不太清楚儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的,這就是今天我們跟著RoHS檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)
能量色散X熒光光譜儀(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer,簡(jiǎn)稱ED-XRF)是一種用于材料分析的儀器,它通過測(cè)量樣品吸收入射X射線后產(chǎn)生的熒光輻射來確定樣品中各種元素的含量。其原理涉及X射線的產(chǎn)生、樣品的激發(fā)和熒光輻射的檢測(cè)。以下是ED-XRF的工作原理的基本步驟:?1. X射線產(chǎn)生:ED-XRF儀器通過使用X射線管產(chǎn)生X射
膜厚測(cè)試儀經(jīng)過多年的發(fā)展,已經(jīng)有了很大的進(jìn)步。我們測(cè)量膜厚的方法有很多,這些方法也各有各的使用應(yīng)用特點(diǎn),我們還是需要增加對(duì)于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來跟大家介紹一下膜厚測(cè)試儀的幾種測(cè)試方法。1.金相顯微鏡法:利用顯微鏡光學(xué)原理,對(duì)物體進(jìn)行放大,可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構(gòu)。應(yīng)用特點(diǎn):破壞性測(cè)試,耗時(shí)長(zhǎng),價(jià)格昂貴。2.庫(kù)倫法:根據(jù)庫(kù)侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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