rohs環(huán)保檢測(cè)儀有哪些性能優(yōu)勢(shì) ?

時(shí)間：2022-12-09作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：74

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

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  詞條說明

• X熒光光譜儀性能評(píng)估三要素，你了解嗎？

  X熒光光譜儀根據(jù)用途和設(shè)計(jì)針對(duì)性有很多俗稱：如X熒光測(cè)厚儀、X-ray膜厚儀、光譜測(cè)厚儀等，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展進(jìn)步，X熒光光譜儀在非常多的領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，對(duì)于企業(yè)發(fā)展提供了很大的助力，很多人在購買X熒光光譜儀的時(shí)候不知道看什么，實(shí)際上X熒光光譜儀性能評(píng)估需要注意三要素，今天跟著X熒光光譜儀廠家來了解一下吧。1.較小測(cè)量面積：性能好的儀器較小測(cè)量直徑可以到0.1mm以下。2.可測(cè)樣品形狀的復(fù)

• XU-100光譜測(cè)厚儀相比其他品牌測(cè)厚儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

  XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。檢測(cè)各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm,較近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)030mm,是一款測(cè)量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。② 高精密微型移動(dòng)滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X

• 鍍層測(cè)試儀使用方法及使用注意事項(xiàng)

  鍍層測(cè)試儀是由于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來和一六一起了解鍍層測(cè)試儀使用方法及使用注意事項(xiàng)。鍍層測(cè)試儀的正確使用方法：一，打開電源觀察菜單。當(dāng)你打開電源之后，你會(huì)觀察到顯示屏上面的菜單。這個(gè)時(shí)候，我們需要對(duì)它選擇一定的模式，測(cè)量模式主要分為F

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行，國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進(jìn)行貴金屬含量的無損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)