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詞條說明
CCD全譜光譜儀分析精密度高,這一特點(diǎn)在現(xiàn)代材料分析領(lǐng)域具有極其重要的意義。CCD全譜光譜儀是一種基于電荷耦合器件(Charge-Coupled Device, CCD)技術(shù)的光譜分析儀器,它通過收集、轉(zhuǎn)換和檢測樣品發(fā)出的光譜信息,實(shí)現(xiàn)對樣品成分和結(jié)構(gòu)的定量分析。而分析精密度作為衡量儀器性能的關(guān)鍵指標(biāo)之一,直接決定了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。CCD全譜光譜儀之所以能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的分析,主要得益于其
光電直讀光譜儀由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。光源部分使試樣激發(fā)發(fā)光;聚光部分是把發(fā)出的光聚集起來導(dǎo)入分光部分;分光部分是將光色散成各元素的譜線;測光部分是用光電法測量各元素的譜線強(qiáng)度,并指示、記錄下來,或是將其測光讀數(shù)換算成為元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示出來。1.光源發(fā)生器光電光譜分析使用的光源發(fā)生器有火花發(fā)生器、電弧發(fā)生器和低壓電容放電發(fā)生器等。2.光源的電極架部分用于裝載塊狀試樣、棒狀試
選擇ICP-OES(電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀)的原因可以歸結(jié)為以下幾點(diǎn):1. **高精度分析**:ICP-OES具有極高的靈敏度,可以分析低至ppt(十億分之一)級別的樣品,這在許多情況下是必不可少的。同時(shí),其精確的定量分析能力使其成為許多科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用的首選工具。2. **多元素同時(shí)分析**:ICP-OES可以同時(shí)對多種元素進(jìn)行分析,大大提高了分析效率,節(jié)省了時(shí)間。這是其廣泛應(yīng)用于元素分析的重
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)作為現(xiàn)代分析科學(xué)中的高端儀器,其在元素分析領(lǐng)域展現(xiàn)出了卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景。然而,關(guān)于“ICP-MS儀器像數(shù)尺寸”這一表述,實(shí)際上涉及了多個(gè)概念,需要逐一澄清并簡要概述。首先,需要明確的是,“像數(shù)”一詞在ICP-MS儀器的語境中并不常見,可能是一個(gè)誤用或混淆了其他領(lǐng)域術(shù)語的結(jié)果。在圖像處理或顯示技術(shù)中,“像數(shù)”通常指像素?cái)?shù)量,用于描述圖像的分辨率和清晰度
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