Phasec 3d渦流探傷儀

時間：2015-11-03作者：北京中儀友信科技有限公司瀏覽：202

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  詞條說明

• ECHOGRAPH 1085 AVG/DAC數(shù)字式超聲波探傷儀

  特性在振幅圖上的A-掃描波形描述結(jié)果也是用數(shù)字形式給出:振幅高度,缺陷深度,觀測目標(biāo)間距. 一系列的顯示器將顯示實時缺陷評估(330Hz).顯示器的小范圍可以通過一個按鍵放大至整個屏幕（放大功能）. 儀器的設(shè)置也可以根據(jù)需要存儲并可再次提取. 同樣,測試結(jié)果包括A-掃描也可以保存,轉(zhuǎn)存或打印.儀器有防濺外殼（比IP54 較好）, 使其可以在潮濕和充滿粉塵的環(huán)境中運(yùn)行。儀器型號有DAC和/或AVG

• MNISCAN MX ECA渦流陣列探傷儀

  渦流陣列技術(shù) 渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)，可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan? ECA檢測配置在橋式或**-接收模式下可支持32個感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。渦流陣列的優(yōu)勢 同單通道渦流技術(shù)相比

• XPN-300偏光顯微鏡熔點儀

  XPN-300偏光顯微鏡熔點儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校較常用的專業(yè)實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等領(lǐng)域。偏光熔點測定儀采用微電腦

• Solaris CCD Plus全譜真空光譜儀

  一、儀器簡介CCD+全譜火花直讀光譜儀是一臺方便使用和高精度的儀器。由于結(jié)構(gòu)緊湊體積小巧、性能高Solaris CCD Plus可以安放在辦公室、實驗室、倉庫、生產(chǎn)線等任何工作場所。Solaris CCD Plus可以有不同的配置，用于分析不同種類的黑色和有色金屬及合金。 二、主要特點1、采用CCD檢測器，可實現(xiàn)全譜分析，能夠滿足多基體分析要求，在元素選擇上具有充分的靈活性；2、儀器采用500m