詞條
詞條說(shuō)明
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生
紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)(Q8UV老化機(jī))
您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽(yáng)光和水份是戶外產(chǎn)品的較大敵人,Q8 能模擬陽(yáng)光、雨露造成的損害,符合多項(xiàng)**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點(diǎn)。Q8采整體式設(shè)計(jì),可程控設(shè)定每天 24小時(shí)每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗(yàn)。只要幾天或數(shù)星期的時(shí)間,就可再現(xiàn)室外幾個(gè)月、甚至數(shù)年時(shí)間才會(huì)發(fā)生的損傷,包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備
冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備-----關(guān)于除霜
冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備-----關(guān)于除霜? 冷熱沖擊設(shè)備為什么要除霜呢??? ??????首先我們來(lái)看霜是什么,它長(zhǎng)在什么地方。霜是空氣中的水遇冷后瞬間*冷卻結(jié)晶的結(jié)果,霜就是小冰晶,霜結(jié)厚了就很*變成厚厚的冰。冷熱沖擊箱中的霜是長(zhǎng)在預(yù)冷區(qū)的蓄能組件上的。? ???&nb
三綜合試驗(yàn)箱是溫濕度和振動(dòng)結(jié)合的高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱,用三綜合試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)的目的為確定溫度、濕度、振動(dòng)對(duì)機(jī)電產(chǎn)品在地面和飛行期間的表現(xiàn)、安全性及性能的綜合影響。該試驗(yàn)的某些部分可以應(yīng)用于地面車輛,一般在這種情況下進(jìn)行試驗(yàn)不考慮高度。也可以通過(guò)試驗(yàn)評(píng)價(jià)產(chǎn)品在空中(或海拔地區(qū))受到溫度、濕度和振動(dòng)的綜合作用時(shí)可能引發(fā)的故障。該實(shí)驗(yàn)還可用于工程研制試驗(yàn)、飛行或使用支持試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和其他類似目的的試驗(yàn)。&
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