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詞條說明
電子電氣產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下,內(nèi)部元件(如電路板、電容、芯片等)可能出現(xiàn)哪些故障?如何通過低氣壓測試來提前發(fā)現(xiàn)并預(yù)防這些故障?
一、可能出現(xiàn)的故障電路板方面在低氣壓環(huán)境下,電路板可能出現(xiàn)分層故障。由于氣壓降低,電路板內(nèi)部的層間壓力失衡,特別是多層電路板,其內(nèi)部的粘結(jié)材料可能會受到影響。例如,在飛機上使用的電子設(shè)備,當(dāng)處于高空低氣壓環(huán)境時,電路板層間可能會產(chǎn)生微小的空隙,這會影響信號傳輸,導(dǎo)致信號衰減或干擾。焊點也可能出現(xiàn)問題。低氣壓環(huán)境下,焊點處的金屬材料熱膨脹系數(shù)和應(yīng)力分布會發(fā)生變化。長時間處于這種環(huán)境,焊點可能會出現(xiàn)微
不同測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有何影響?
不同的測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有著顯著的影響。溫度環(huán)境是一個關(guān)鍵因素。在高溫環(huán)境下,PCBA 上的各種材料會因為熱膨脹而發(fā)生尺寸變化。例如,電路板的基板材料、芯片封裝材料以及焊點等都會膨脹。由于不同材料的熱膨脹系數(shù)不同,這種膨脹差異會導(dǎo)致內(nèi)部產(chǎn)生熱應(yīng)力。在高溫測試環(huán)境中,應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果通常會顯示出比常溫下較高的應(yīng)力值,尤其是在不同材料的交接處,如芯片與基板之間的焊點,這種熱應(yīng)力可能
PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試中如何選取最佳測試點?
在 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試中,選取較佳測試點是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵步驟。首先,考慮組件的關(guān)鍵位置。對于 PCBA 電路板來說,像 BGA(球柵陣列封裝)、QFN(四方扁平無引腳封裝)等封裝形式的芯片是重點關(guān)注對象。這些芯片引腳眾多且間距小,在受熱或受到外力時*出現(xiàn)應(yīng)力集中的情況。在芯片的四個角落以及中心位置附近設(shè)置測試點是比較合適的,因為角落往往是應(yīng)力變化比較明顯的地方,而中心位置可以幫助檢測整體
FTIR紅外光譜圖分析方法 FTIR紅外光譜譜圖比對分析有現(xiàn)成紅外譜圖庫參考,通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會面臨標(biāo)準(zhǔn)譜庫檢索導(dǎo)致的誤判 需要足夠多的化學(xué)分析、材料研發(fā)經(jīng)驗來支撐 優(yōu)爾鴻信,自1996年建立紅外光譜實驗室,并將實驗室研發(fā)技術(shù),導(dǎo)入到*生產(chǎn)中,幫助解決問題,積累一些經(jīng)驗。 編輯:Amanda王莉
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 王莉
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地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
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