金屬材料實(shí)驗(yàn)室中XRF熒光光譜儀的優(yōu)劣分析

時(shí)間：2023-09-22作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：23

無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司專注于光譜儀,直讀光譜儀,光譜分析儀等

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  詞條說明

• 火花直讀光譜儀和臺(tái)式X熒光光譜儀選哪個(gè)？

  首先火花直讀光譜儀和臺(tái)式X熒光光譜儀兩種儀器都是高精度的儀器，但是二者其實(shí)是有本質(zhì)區(qū)別的，具體從原理和特點(diǎn)兩個(gè)方面來看，那我們應(yīng)該怎么選擇呢？接下來小編來介紹下吧！一、分析原理的區(qū)別：直讀火花光譜儀工作原理則是用電?。ɑ鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈鞣N元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變

• 受各大領(lǐng)域青睞！臺(tái)式X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)真不少

  臺(tái)式X熒光光譜儀是一種利用X射線熒光技術(shù)進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的設(shè)備。臺(tái)式X熒光光譜儀通常采用高分辨率的光譜儀系統(tǒng)，由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。臺(tái)式X熒光光譜儀可用于各種領(lǐng)域，如金屬分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、材料科學(xué)、考古學(xué)等，廣泛受大家青睞的原因是它有很多優(yōu)點(diǎn)，接下來創(chuàng)想小編給大家介紹下吧。臺(tái)式X熒光光譜儀具有以下幾個(gè)**的優(yōu)點(diǎn)：分析速度高：X熒光光譜儀可以在短時(shí)間內(nèi)完成樣品中全部待測(cè)元素的

• 手持式光譜儀怎么把測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理？

  手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成，由于其便攜具有高效、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。那手持式光譜儀測(cè)量數(shù)據(jù)的預(yù)處理方法是什么呢？創(chuàng)想儀器會(huì)在這篇文章里告訴你。手持式光譜儀的測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理可以通過以下步驟進(jìn)行：數(shù)據(jù)篩選：檢查測(cè)量數(shù)據(jù)的完整性，例

• 臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差的幾個(gè)來源分析

  臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。在各種應(yīng)用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源：（1） 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強(qiáng)度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對(duì)粒度越敏感；同一元素粒度越小，