詞條
詞條說明
光照、高溫和潮濕,這三個因素會造成材料的老化損害,同時也是日常中設(shè)備經(jīng)常會接觸到的元素,它們往往同時發(fā)生作用,所造成的危害將大于其中任一因素的單獨作用。1、光照不同材料對光的敏感性不同。對于經(jīng)久耐用的材料,如大多數(shù)涂料、塑料、紫外線的短波段是引起大部分聚合老化的原因。然而,對于不是那么經(jīng)久耐用的材料,比如一些顏料和染料,紫外線 的長波段甚至可見光也會使其產(chǎn)生嚴重的才華。2、高溫當溫度升高時,光的破
物理原理出發(fā),為什么芯片等半導(dǎo)體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)?溫度會影響很多很多參數(shù),它們會對電路的各個方面產(chǎn)生影響。zui大的問題就是電路延遲。溫度會影響半導(dǎo)體器件的遷移率和閾值電壓,但是這兩者和溫度的關(guān)系很復(fù)雜,而且不同材料的不同摻雜也會影響溫度效應(yīng)。通常情況下,在接近室溫的情況下,遷移率和閾值都會隨著溫度的上升而降低,總體上來說,溫度的上升會造成電路延時的增加。一旦延時過高,部分電
低氣壓試驗,是用設(shè)備模擬高空氣壓環(huán)境,將試驗樣品放入試驗箱(室),然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標準規(guī)定的值,并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。用來確定元件、材料、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性、耐電擊穿能力;確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力;檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng);有時候可用于確定機電元件的耐久性。低氣壓試驗是常溫條件下的低氣壓試驗。若裝置元件的設(shè)備將
小型環(huán)境試驗箱 ? 研究開發(fā)用較佳伙伴。 適用標準:GB/T2423.1 / IEC60068-2-1、GB/T2423.3 / IEC60068-2-78、GB/T2423.4 / IEC60068-2-30、GB/T2423.34 / IEC60068-2-38、JESD22-A100-C、JESD22-A101-C。 ? 輕巧緊湊,機身小容積大 占地小體重輕,可2臺疊放
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
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