成分分析的作用及目的
- 時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：282
深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等
詞條
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SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機械探針式測量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場?(Extractor)?牽引**細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、
表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF
表面成分分析按照結(jié)論來區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過成分分析的手段得出被測物中主要包括的成分，概況的來說就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測物的定性組分之后，進行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無限接近真實情況，但卻無法**保證準(zhǔn)確。定性半定量分
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