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詞條說明
?半導體集成電路失效分析檢測裝備之高低溫試驗箱。電子產(chǎn)品失效分析是一門新興發(fā)展中的學科,在提高產(chǎn)品質量,技術開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義!下面讓柏毅君根據(jù)多年生產(chǎn)經(jīng)驗介紹一下集成電路(CMOS)低溫失效分析與高溫失效檢測! ??高低溫交變濕熱試驗箱與恒溫恒濕試驗箱屬同類產(chǎn)品,只是叫法不同,高低溫交變濕熱試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領
? ?? ? ? ? ? ?電子元器件用高壓加速壽命試驗機(PCT)的發(fā)展 ??隨著現(xiàn)代社會的日益發(fā)展,科技的發(fā)展也是一日千里,科學的發(fā)展同時也帶動了現(xiàn)代工業(yè)技術的發(fā)展,例如各種電工電子及電鍍等產(chǎn)品的應用領域日益廣闊,其所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越多樣化,只有嚴格制定產(chǎn)品的相關條件,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境
公司名: 上海柏毅試驗設備有限公司
聯(lián)系人: 李青
電 話: 021-59592605
手 機: 18017970031
微 信: 18017970031
地 址: 上海嘉定嘉定上海市嘉定鎮(zhèn)楊木橋支路8號6幢A區(qū)
郵 編:
網(wǎng) 址: shanghaiboyi.cn.b2b168.com
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