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ELSZ-1000ZS閃電發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子Zeta電位,粒度測量系統(tǒng); OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測, OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測設(shè)備, OTSUKA彩色濾光片色度檢查機, OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專, OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測設(shè)備, FPD相關(guān)的檢查和評價設(shè)備: 動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀:MPRT-2000, 相
FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。高精度、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。 可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值,實現(xiàn)自動測量 電流-**效率曲線 電流-光通量曲線 電流-功率曲線 電流-色溫曲線 電流-色坐標(biāo)曲線 電流-顯色性曲線 電流-電壓曲線 光纖在較度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢! 紫外吸收光譜有多種表示方法,圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標(biāo),波長為橫坐標(biāo);有橫坐標(biāo)為波數(shù)和頻率;自動光學(xué)檢查(AOI,AutomatedOpticalInsp
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢! 產(chǎn)品特點對應(yīng)高鹽濃度溶液界達電位 ??闪繙y0-90℃寬闊的溫度范圍??闪繙y懸濁度的高濃度樣本粒徑。搭載自動溫度梯度測量功能,可分析變性、相變溫度。通過較i新型的高感度APD
公司名: 大塚電子(蘇州)有限公司
聯(lián)系人: 曹先生
電 話: 0512-62589919
手 機: 13049398933
微 信: 13049398933
地 址: 江蘇蘇州吳中區(qū)蘇州工業(yè)園區(qū)蘇州大道西1號世紀(jì)金融大廈1幢609
郵 編: 215021
網(wǎng) 址: a415674877.cn.b2b168.com
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